PLASSMAT est la nouvelle plateforme rassemblant tous les instruments de caractérisations de l’IMN (Institut des matériaux Jean Rouxel) utilisables par les partenaires publics et privés extérieurs à l’IMN. Parmi ces instruments, les microscopes électroniques (ME) constituent des outils majeurs dont les performances intéressent les chercheurs bien au-delà de la place nantaise. La plateforme est multi-site car une partie des microscopes se trouvent sur le site de la Lombarderie (Faculté des Sciences) et une partie sur le site de la Chantrerie (Polytech-Nantes). 2 MET, 1FIB et 4 MEB composent la plateforme ME à ce jour.
Liste des instruments de microscopie électronique de la plateforme PLASSMAT
MET Nant’Themis @PLASSMAT
Le Nant’Themis est un microscope électronique en transmission permettant l’imagerie en 2D et/ou 3D, l’analyse structurale et chimique des échantillons à l’échelle nanométrique voire sub-nanométrique.
MET Hitachi-9000 NAR @PLASSMAT
Le microscope électronique en transmission Hitachi H-9000 NAR est utilisé pour caractériser les échantillons en imagerie conventionnelle. Leur structure cristalline peut être déterminée par diffraction
CRYO-FIB (double faisceau) ZEISS 550L @PLASSMAT
Le CRYO-FIB est un microscope électronique à balayage générant, simultanément un faisceau d’électrons et un faisceau d’ions qui balayent la surface d’un échantillon pouvant être
MEB JEOL 7600F @PLASSMAT
Le JEOL JSM 7600F est un microscope électronique à balayage muni d’un canon électronique à émission de champ et de détecteurs d’électrons In-Lens. Son excellente
MEB ZEISS MERLIN @PLASSMAT
Ce microscope électronique à balayage est un Zeiss Merlin (2009), muni d’un canon à effet de champ et d’un détecteur d’électrons InLens. Il est utilisé pour les
MEB JEOL 5800LV @PLASSMAT
Le JEOL JSM 5800LV est un microscope électronique à balayage équipé d’un détecteur EDS SAMx. Microscope de routine concernant l’imagerie, il est configuré avec un
MEB ZEISS 1450 VP @PLASSMAT
Ce microscope électronique à balayage est un Zeiss 1450 VP (2003) muni d’un canon à filament tungstène.Il est principalement utilisé pour les images et analyses de routine.
Outre ces instruments, des outils de préparation des échantillons font aussi partie du service tels que (cryo)-ultramicrotome, PIPS (amincisseur ionique), cross-section polisher, contournement du point critique, polisseuses, …
Mode de réservation : en ligne, une fois les droits donnés par les responsables des instruments
Contacts et lien site :
- MET : Eric Gautron. Courriel : Eric.Gautron@cnrs-imn.fr
- MEB/FIB : Nicolas Stephant. Courriel : Nicolas.Stephant@univ-nantes.fr
- Responsable Scientifique ME : P. Moreau. Courriel : Philippe.Moreau@cnrs-imn.fr