MET Hitachi-9000 NAR @PLASSMAT

Le microscope électronique en transmission Hitachi H-9000 NAR est utilisé pour caractériser les échantillons en imagerie conventionnelle. Leur structure cristalline peut être déterminée par diffraction électronique dans le cas d’échantillons cristallisés. Un détecteur EDX permet d’associer une composition chimique à la zone sondée. 

Type d’instrument

  • Microscope Electronique en Transmission (MET)
Marque/modèle
Hitachi H-9000 NAR

Année d’installation

1996
Localisation
Centre de Microcaractérisation (CMC), site de la Faculté des Sciences, Nantes

Partenaire

IMN, https://www.cnrs-imn.fr/

Options/accessoires

  • Lentille objectif haute résolution (résolution point-point : ~0,2 nm)
  • Détecteur EDX : Kevex (analyse élémentaire semi-quantitative) avec une résolution spatiale de quelques nms
  • 2 Porte-objets dont un double-tilt pour l’orientation des cristaux

Exemples d’applications

Liens vers photothèque

Contacts

Ingénieur responsable : Eric Gautron (IE, CNRS), Eric.Gautron@cnrs-imn.fr
0240376419

Site de la plate-forme hébergeant l’instrument
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Site de réservation de la plate-forme (accès restreint)

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