MEB ZEISS EVO-40 @GEM

Le ZEISS EVO-40 est un microscope électronique à balayage environnemental permettant l’analyse structurale et chimique des échantillons à l’échelle nanométrique. Son mode environnemental permet l’étude d’échantillons hydratés avec un minimum de préparation.

Type d’instrument

Microscope électronique à balayage (MEB)

Marque/modèle

ZEISS EVO-40 (pression partielle, environnemental)

Année d’installation

2007

Localisation

GeM – Nantes Université – IUT de Saint-Nazaire

Partenaire

GeM – Institut de Recherche en Génie Civil et Mécanique

Options/accessoires

3 détecteurs :

électrons secondaires haut vide (SE1)
électrons rétrodiffusés (CZ BSD)
électrons secondaires pression partielle (VPSE G3)

Platine à effet Peltier : – 30°C / + 50°C (30°C/min)

Gamme de pression dans la chambre :

mode VP 10 Pa à 400 Pa (pression partielle)
Mode XVP 10 Pa à 750 Pa (pression partielle étendue)
Mode EP 10 Pa à 3000 Pa (environnemental)

Microanalyse X (EDS) : système Quantax de Synergie4 Bruker sans azote

Exemples d’applications

Liens vers photothèque

Contacts

Responsable :
Samuel Branchu
IUT Saint-Nazaire – Bât. 17
02 72 64 87 44
samuel.branchu@univ-nantes.fr

Site de la plate-forme hébergeant l’instrument