Le JEOL JSM 7600F est un microscope électronique à balayage muni d’un canon électronique à émission de champ et de détecteurs d’électrons In-Lens. Son excellente résolution de 1nm permet d’imager un échantillon jusqu’au grandissement de X 1 000 000 en utilisant des tensions d’accélération du faisceau très basses. Équipé EDS, il a été installé au CMC de l’IMN début 2009.
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