MEB JEOL 5800LV @PLASSMAT

Le JEOL JSM 5800LV est un microscope électronique à balayage équipé d’un détecteur EDS SAMx. Microscope de routine concernant l’imagerie, il est configuré avec un spectromètre en dispersion d’énergie performant pour obtenir les analyses chimiques  les plus soignées possibles en pratiquant la quantification avec standards.

Type d’instrument

  • Microscope électronique à balayage (MEB)
Marque/modèle
JEOL JSM 5800LV

Année d’installation

1997
Localisation
Centre de Microcaractérisation (CMC), site de la Faculté des Sciences, Nantes

Partenaire

IMN, https://www.cnrs-imn.fr/>

Options/accessoires

  • Détecteur EDS
  • Détecteur en cathodoluminescence

Exemples d’applications

Liens vers photothèque

Contacts

Ingénieur responsable :
Nicolas Stephant (IE, Nantes Université),
Nicolas.Stephant@univ-nantes.fr,
0240376426

Site de la plate-forme hébergeant l’instrument
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Site de réservation de la plate-forme (accès restreint)

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